微量塵埃檢查立體顯微鏡-搭配顯微圖像分析
特性：
本儀器是利用偏光鏡的原理觀察到肉眼無法看到的塵埃或不
明異物，例如可觀察到安瓶及小玻璃藥瓶內的不明物體
，此儀器亦可接立體顯微鏡，以便更清晰觀察。
光 源
鹵素燈100-300W
6.5kg-8kg
立 體 顯 微 鏡—5X及20X
倍率7~45X，200M;鏡筒:雙目式觀察鏡筒，30度傾斜、可360度迴轉，
雙目可調整眼幅與屈光補償;目鏡:廣角目鏡WF10X/21mm；
另有WF15X、WF20X、WF25X供選擇;物鏡:變焦式物鏡0.7-4.5 Zoom，
可作7X-45X無段式觀察;光源:12V /20W 上下鹵素燈，可打穿透光或落射光，
可調整明暗度;操作平臺:180mm×220mm 操作平臺
線上納米粉體粒徑檢測技術
納米粉體粒徑的量測模式可分為濕式量測與乾式量測兩種。其中，濕式量測主
要是根據(jù)粉體因為尺寸的不同，在量測系統(tǒng)中會呈現(xiàn)出不同的特性來加以分析，
以求得粉體粒徑大小，動態(tài)光散射(Dynamic Light Scattering, DLS)與離心沉降分析法
(Centrifugal Sedimentation Analyzer)等即屬此類；而乾式量測通常則是以穿透式電子
顯微鏡(Transmission Electron Microscope, TEM)或原子力顯微鏡
(Atomic Force Microscope, AFM)等直接觀察粉體，將其幾何形貌呈現(xiàn)出來，進而推算出其粒徑大
小，現(xiàn)階段中各種電子顯微鏡的量測優(yōu)點可以提供局部區(qū)域納米顆粒的標準尺寸，
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華東華南地區(qū)
