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材料測試表征系列2TEM制樣﹑操作﹑數(shù)據(jù)分析﹑教程書籍資料大全引言透射電子顯微鏡（英語：Transmission electron microscope，縮寫TEM），簡稱透射電鏡，是把經(jīng)加速和聚集的電子束投射到非常薄的樣品上，電子與樣品中的原子碰撞而改變方向，從而產(chǎn)生立體角散射。散射角的大小與樣品的密度、厚度相關(guān)，因此可以形成明暗不同的影像，它是最常用的材料測試表征手段之一。本期【材料測試表征系列】針對TEM測試表征過程中可能遇到的問題，整理出了TEM制樣﹑操作﹑數(shù)據(jù)分析﹑教程書籍資料大全，希望能為讀者提供一些有價值的信息。TEM制樣篇1.合集-TEM SEM 透射電鏡、掃描電鏡原理、樣品制備技術(shù)2.《透射電鏡樣品制備課件講義》3.透射電鏡樣品制備方法和注意事項4.透射電鏡（TEM）樣品制備課件【中科院物理所版】TEM操作篇1.FEI Tecnai F20 S-TWIN透射電子顯微鏡標準操作規(guī)程（非常詳細，各種操作都包括）型號：FEI Tecnai F20S-TWIN透射電子顯微鏡操作規(guī)程：（一）基本操作（簡單透射以及高分辨（二）選取電子衍射（三）能譜分析（四）暗場像（五）STEM（六）儀器開關(guān)機（七）STEM+EDX面掃這些文件對TEM新手非常有用2.透射電鏡的使用教程及相關(guān)資料3.JEM2100培訓手冊TEM軟件篇1.TEM圖像分析處理軟件DigitalMicreograph，含使用手冊2.DM軟件教程（一）Digitalmicrograph也可以做顆粒尺寸分析（二）DM中文說明書（三）Multivariate Histogram Analysis Users Guide rev1TEM數(shù)據(jù)分析篇1.TEM透射電鏡粒徑分布統(tǒng)計方法2.透射電鏡圖處理.doc3.常見晶體的標準電鏡衍射花樣standard TEM SAED.pdf4.TEM透射電鏡衍射斑點標定深入淺出5.僅用word完成TEM透射電鏡衍射斑點標定6.電鏡圖象解釋如何對一張電子圖象獲得的信息作出正確的解釋和判斷，不但很重要，也很困難。必須建立一套相應的理論才能對透射電子象作出正確的解釋。7.【張教授高清上課筆記】透射電子顯微學該手稿是張老師上課時所用的講稿。手稿是以機械工業(yè)出版社出版的《金屬電子顯微學》為范本，結(jié)合了張老師從事電子顯微工作近20年的經(jīng)驗。其中對透射電子顯微鏡進行了詳述的介紹：不論是從透鏡的成像原理，衍射花樣(包括復雜衍射花樣)的標定，實際材料中缺陷所對應出來的成像特點(包括衍射花樣)，張老師都給出了自己獨特的見解，給人茅舍頓開的感覺。8.數(shù)據(jù)分析教程合集TEM教程篇1.透射電鏡PPT講義2.【TEM透射電鏡】[英語]TEM入門、進階視頻教程（From Nanohub by Eric Stach)Eric Stach目前是BNL（Brookhaven National Laboratory，布魯克黑文國家實驗室）電鏡組的老大，在普渡大學任教期間做了兩個系列（MES582，MSE640）TEM的視頻教程，都是上課期間一起錄制的，上傳在Nanohub上，并且配有課件pdf文檔。MSE582簡單介紹了TEM的使用和原理，具體的理論則在MSE640中進行講解?？上У氖荕SE640的課程Nanohub上并不全，中間有3-4課的內(nèi)容跳過了。如果有大神有相關(guān)缺失的資源，歡迎分享！視頻是英文的，暫時沒有找過字幕。先上傳MSE582的第工一課，有興趣的話可以自行進網(wǎng)站在線觀看或下載。附網(wǎng)址MSE582：https://nanohub.org/resources/3777MSE640：https://nanohub.org/resources/4092TEM書籍篇1.原版4卷本《Transmission Electron Microscopy》透射電鏡的優(yōu)質(zhì)教材！書名：Transmission Electron Microscopy -- A Textbook for Materials Science中文名：透射電子顯微學作者：David B. Williams and C. Barry Carter出版日期：最新版說明：非常精美清晰的版本，搞透射電鏡的人必讀的經(jīng)典中的經(jīng)典！本書是美國最為流行的教科書之一。它分為4卷：基本概念，衍射理論，成像原理及能譜分析。其中第1卷主要講解電子顯微鏡的基本概念，包括衍射基礎知識、顯微鏡的組成部件、儀器構(gòu)造與功能以及樣品制備。第2卷介紹衍射圖像、倒易點陣、衍射電子像的標定，以及各種衍射分析方法。第3卷主要是關(guān)于成像原理。該卷對材料研究中典型的課題進行系統(tǒng)的介紹。比如晶體缺陷、內(nèi)應力、相分析等。該卷還著重介紹了高分辨電子顯微鏡和圖像模擬。第4卷討論各種能譜的分析方法與技術(shù)。比如X射線譜、X射線定量定性分析、電子能量損失譜、離子能量損失譜等。在電子顯微學研究中最為基本的理論是衍射理論，因而該書利用相當大的篇幅介紹衍射理論以及與其緊密相關(guān)的晶體結(jié)構(gòu)，這些知識是材料學專業(yè)的重要基礎理論之一。本書作為教材很有創(chuàng)新性，而且把這一通用的材料表征技術(shù)的實際應用進行了必要的介紹和論述，是短時間內(nèi)掌握電子顯微鏡的最佳學習途徑，無論是電子顯微鏡初學者還是高級研究人員都將開卷有益。它也是亞馬遜網(wǎng)上書店最暢銷的教材之一。2.2012-TEM英文新書《The Transmission Electron Microscope》The Transmission Electron MicroscopeEdited by Khan Maaz, ISBN 978-953-51-0450-6, Hard cover, 392 pages, Publisher: InTech, Published: April 04, 2012The book "The Transmission Electron Microscope" contains a collection of research articles submitted by engineers and scientists to present an overview of different aspects of TEM from the basic mechanisms and diagnosis to the latest advancements in the field. The book presents descriptions of electron microscopy, models for improved sample sizing and handling, new methods of image projection, and experimental methodologies for nanomaterials studies. The selection of chapters focuses on transmission electron microscopy used in material characterization, with special emphasis on both the theoretical and experimental aspect of modern electron microscopy techniques. I believe that a broad range of readers, such as students, scientists and engineers will benefit from this book.3.【中文STEM】高分辨掃描透射電子顯微學技術(shù)——原子分辨率原子序數(shù)襯度成像《透射電子顯微學進展》中關(guān)于STEM的章節(jié)C亞埃尺度電子顯微術(shù)C5高分辨掃描透射電子顯微學技術(shù)——原子分辨率原子序數(shù)襯度成像1引言2基本成像原理3原子分辨率電子能量損失譜4材料中的應用及實驗中的具體問題5展望及新的發(fā)展....4.《TEM imaging of crystal defects》晶體缺陷的TEM圖象不用多說，這個資料可謂精華中的精華5.【TEM透射電鏡】[英語]TEM原理教材這是一本偏物理原理的透射電鏡教材，適合有物理基礎的同學深入學習TEM原理?！禩ransmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials》ISBN: 978-3-642-29760-1 (Print) 978-3-642-29761-8 (Online)About this bookThis book explains concepts of transmission electron microscopy (TEM) and x-ray diffractometry (XRD) that are important for the characterization of materials. The fourth edition adds important new techniques of TEM such as electron tomography, nanobeam diffraction, and geometric phase analysis. A new chapter on neutron scattering completes the trio of x-ray, electron and neutron diffraction. All chapters were updated and revised for clarity. The book explains the fundamentals of how waves and wavefunctions interact with atoms in solids, and the similarities and differences of using x-rays, electrons, or neutrons for diffraction measurements. Diffraction effects of crystalline order, defects, and disorder in materials are explained in detail. Both practical and theoretical issues are covered. The book can be used in an introductory-level or advanced-level course, since sections are identified by difficulty. Each chapter includes a set of problems to illustrate principles, and the extensive Appendix includes laboratory exercises.About the authorsBrent Fultz is a Professor of Materials Science and Applied Physics at California Institute of Technology, Pasadena. He is the successful co-author of a book on Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials.James Howe is a Professor of Materials Science and Engineering at the University of Virginia, Charlottesville. He successfully co-authored the book Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials.6.《掃描電子顯微學及在納米技術(shù)中的應用》納米界和電鏡界的大牛王中林的巨著做納米材料和電鏡的必備書籍之一中文封面《掃描電子顯微學及在納米技術(shù)中的應用》英文封面《Scanning Microscopy for Nanotechnology: Techniques and Applications》7.透射電子顯微學－黃孝瑛
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