|
再結(jié)晶檢測無損檢測渦流檢測技術(shù),金相顯微鏡無損檢測 目前國內(nèi)對定向凝固葉片工程應(yīng)用過程中再結(jié)晶的檢查是在大修時去掉滲層后進行，且檢查方法主要是通過金相法，而這種方法存在難以克服的弊端，一方面對工程應(yīng)用而言速度太慢，另外若對葉片不進行破壞，則只能得到表面再結(jié)晶的范圍，而對葉片在厚度方向的再結(jié)晶深度無從可知。與金相法相比，無損檢測方法具有非破壞性、速度快、可以測量深度等特點，對于定向凝固與單晶高溫合金的再結(jié)晶評定，是一種理想的工程應(yīng)用方法，具有很好的應(yīng)用前景。 在眾多的無損檢測方法中，超聲和渦流檢測技術(shù)是有望解決再結(jié)晶檢測難題的兩種重要方法，盡管存在的技術(shù)難度也很大。 首先分析一下再結(jié)晶層的超聲檢測，其難度主要有以下兩方面：①再結(jié)晶層本身厚度?。ㄎ⒚琢考墸瑧?yīng)用于基體材料中的很多檢測原理和方法不再適用；②再結(jié)晶層與基體之間的聲阻抗差異不大，給特征參量的提取帶來很大難度。 要解決該問題，首先要能識別再結(jié)晶區(qū)的存在。由于再結(jié)晶區(qū)的組織結(jié)構(gòu)、彈性模量與未發(fā)生再結(jié)晶的區(qū)域有較大的差異，可能在兩者界面上產(chǎn)生超聲波的反射，從而可利用反射信號識別再結(jié)晶層并測量其厚度；同時，兩者晶粒尺寸與組織結(jié)構(gòu)的差異也可能引起超聲散射信號的差異，通過信號處理識別再結(jié)晶層的存在。在可識別再結(jié)晶層的情況下，一方面要根據(jù)基體和再結(jié)晶層組織結(jié)構(gòu)特點合理制訂檢測工藝，得到準(zhǔn)確波形；另一方面，要研究如何進行信號分析和特征值提取，這兩點是再結(jié)晶層超聲無損檢測的關(guān)鍵所在。檢測方法的確定主要考慮如何獲得準(zhǔn)確的超聲回波信號。對于具有再結(jié)晶層的葉片，得到的超聲脈沖回波信號比較復(fù)雜，不同界面的多次回波互相交錯，甚至疊加，帶來波形識別上的困難。為此，首先應(yīng)保證探頭與探傷儀之間的良好匹配，并設(shè)法獲得聲束寬度很細的脈沖信號；其次，通過驅(qū)動裝置控制探頭的移動范圍和精度，以便改變聲束焦點的位置，獲得不同深度、不同位置處的精確回波。另外，應(yīng)充分估計到多層介質(zhì)中聲波干涉效應(yīng)的影響，準(zhǔn)確識別波形。
|
華東華南地區(qū)
